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        納米粒度及Zeta電位分析儀

        簡要描述:BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是 BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。

        • 產品型號:BeNano 180 Zeta Pro
        • 廠商性質:生產廠家
        • 更新時間:2024-07-26
        • 訪  問  量: 17166

        詳細介紹

        BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano  90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。 BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分 布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

        納米粒度及Zeta電位分析儀

                                 

        基本性能指標


        粒徑檢測

          原理  動態光散射技術
          粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
          樣品量  3 μL – 1 mL
          檢測角度  173 °+90 ° + 12°
          分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

        Zate電位測試

          原理  相位分析光散射技術
          檢測角度  12°
          Zeta范圍  無實際限制
          電泳遷移率范圍  > ±20 μm.cm/V.s
          電導率范圍  0 - 260 mS/cm
          Zeta測試粒徑范圍  2 nm – 120 μm  

        分子量測試

          分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

        微流變測試

          測試能力  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

        粘度和折光率測試

          粘度范圍  0.01 cp – 100 cp
          折光率范圍  1.3-1.6

        趨勢測試

          時間與溫度

        系統參數

          溫控范圍  -15°C - 110°C,精度±0.1°C
          冷凝控制  干燥空氣或者氮氣
          相關器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
          電泳遷移率范圍  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍
          檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)
          光強控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    

        軟件

          中文和英文  符合21CFR Part 11



        檢測參數


        ●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

        ●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

        ●分子量

        ●分布系數 PD.I

        ●擴散系數 D

        ●流體力學直徑 DH

        ●顆粒間相互作用力因子 kD

        ●溶液粘度



        檢測技術

        ●動態光散射

        ●靜態光散射

        ●電泳光散射


        納米粒度及Zeta電位分析儀



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